Testy półprzewodników: rozwiązania dla badań, rozwoju i kontroli seryjnej
Cel i zadania testów półprzewodników
Półprzewodniki są podstawowymi komponentami nowoczesnych elementów elektronicznych, stosowanych w tranzystorach mocy, produktach optoelektronicznych lub w zastosowaniach wysokiej częstotliwości. Aby zweryfikować ich bezpieczeństwo funkcjonalne, niezawodność i wydajność w rzeczywistych warunkach, przeprowadza się kompleksowe testy. W ramach testów półprzewodników przeprowadza się między innymi charakteryzację I-V, testy starzenia, obciążenia impulsowe oraz testy parametryczne w realistycznych warunkach pracy. Do tych wymagających zadań firma Schulz-Electronic oferuje szeroką gamę zasilaczy, obciążeń elektronicznych i urządzeń pomiarowych SMU (Source Measure Units), które charakteryzują się wysoką precyzją, modułowością i możliwością automatyzacji.
Obszary zastosowań i wyzwania
Testy półprzewodników są przeprowadzane w wielu branżach i obszarach zastosowań, takich jak rozwój i produkcja półprzewodników, elektronika mocy (SiC, GaN, IGBT, MOSFET), optoelektronika (diody LED, lasery, fotodiody), technika motoryzacyjna, elektronika przemysłowa, telekomunikacja oraz badania naukowe.
Najważniejsze wyzwania związane z testami elektrycznymi w przemyśle półprzewodnikowym:
- Testowanie parametrów funkcjonalnych, takich jak prądy upływowe, napięcia przebicia i napięcia progowe.
- Testy starzenia i niezawodności w ekstremalnych warunkach, takich jak wysoka temperatura, wilgotność powietrza i cykliczne obciążenie prądowe (np. HTRB, HTGB, H3TRB).
- Charakterystyka krzywych I-V diod, tranzystorów MOSFET, tranzystorów IGBT i innych elementów mocy.
- Galwanizacja pinów chipów, w której decydujące znaczenie ma równomierna powłoka i stabilny kontakt.
- Testy parametryczne, które muszą rejestrować właściwości dynamiczne i statyczne elementów półprzewodnikowych w zmiennych warunkach napięcia i prądu.
Oferta firmy Schulz-Electronic w zakresie testowania półprzewodników
Firma Schulz-Electronic oferuje szeroki zakres rozwiązań do testowania półprzewodników przy użyciu najnowocześniejszych urządzeń ITECH.
Państwa korzyści:
- Precyzyjne i niezawodne urządzenia do wymagających zadań pomiarowych
- Wszechstronne opcje konfiguracji dzięki modułowej konstrukcji
- Obsługa komunikacji przez SCPI, LabVIEW, Python, CAN i wiele innych
- Wysoka powtarzalność dzięki precyzyjnie stopniowanemu sterowaniu impulsami i przemiataniem
- Atrakcyjny stosunek ceny do wydajności dla środowisk rozwojowych i produkcyjnych
Nasza oferta produktów do testowania półprzewodników
Do testowania półprzewodników firma Schulz-Electronic oferuje następujące urządzenia ITECH, które pokrywają różnorodne zadania testowe w badaniach, rozwoju i produkcji:
- Seria IT2800: Wysoce precyzyjne urządzenia SMU (Source Measure Units) do testów charakterystyk I-V, prądu ciemności, napięcia progowego i GMR.
- Seria IT6000D: dwukierunkowe zasilacze prądu stałego o dużej mocy (do 18 kW), odpowiednie do testów cyklu zasilania, wypalania i modułów IGBT.
- Seria IT-M3900D: kompaktowe, modułowe zasilacze do wysokich napięć i prądów, m.in. w zastosowaniach impulsowych, implantacji jonowej, pompach laserowych i galwanizacji.
- Seria IT-M3100 i IT2700: elastyczne zasilacze prądu stałego do testów starzenia układów scalonych mocy, modułów DC-DC, diod laserowych i diod LED.
- Seria IT6800A / IT6900A: zasilacze liniowe o niskim poziomie tętnień do wrażliwych testów optoelektronicznych.
- Seria IT6400: SMU z podwójnym trybem ćwiartkowym, np. do testów LIV/PIV diod laserowych lub detektorów optycznych.
- Seria IT8700: Obciążenia elektroniczne o wysokiej dynamice, odpowiednie do testów ciągłości pracy, obciążenia i właściwości przełączania.
- Seria IT-M3400: do precyzyjnych testów impulsów galwanicznych podczas powlekania pinów chipów lub w galwanizacji.
Dodatkowo:
- Platforma oprogramowania ITECH SPS5000: do automatyzacji testów parametrycznych i procedur testowych z wizualizacją i analizą danych.