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Halbleiter-Tests: Lösungen für Forschung, Entwicklung und Serienprüfung

Ziel und Aufgaben von Halbleiter-Tests


Halbleiter sind Kernkomponenten moderner elektronischer Bauteile, die in Leistungstransistoren, optoelektronischen Produkten oder in Hochfrequenzanwendungen zum Einsatz kommen. Um deren Funktionssicherheit, Zuverlässigkeit und Leistung unter realen Bedingungen zu validieren, werden umfangreiche Prüfungen vorgenommen. Bei Halbleiter-Test werden unter anderem I-V-Charakterisierungen, Alterungstests, Pulsbelastungen sowie parametrische Prüfungen unter realistischen Betriebsbedingungen durchgeführt. Für diese anspruchsvollen Aufgaben bietet Schulz-Electronic ein umfassendes Portfolio an Stromversorgungen, elektronischen Lasten und Source Measure Units (SMUs), das sich durch hohe Präzision, Modularität und Automatisierbarkeit auszeichnet.

Anwendungsbereiche und Herausforderungen


Halbleitertests werden in vielen Branchen und Anwendungsbereichen durchgeführt, etwa in der Halbleiterentwicklung und -fertigung, der Leistungselektronik (SiC, GaN, IGBT, MOSFET), Optoelektronik (LEDs, Laser, Photodioden), der Automobiltechnik, Industrieelektronik, Telekommunikation sowie in der Forschung.

Die wichtigsten Herausforderungen bei elektrischen Prüfungen in der Halbleiterindustrie:

  • Prüfung von Funktionsparametern wie Leckströmen, Durchbruchspannungen und Schwellenspannungen.
  • Alterungs- und Zuverlässigkeitstests unter Extrembedingungen wie hoher Temperatur, Luftfeuchtigkeit und zyklischer Strombelastung (z. B. HTRB, HTGB, H3TRB).
  • I-V-Kennliniencharakterisierung von Dioden, MOSFETs, IGBTs und weiteren Leistungsbauelementen.
  • Chip-Pin-Galvanisierung, bei der gleichmäßige Beschichtung und stabile Kontaktierung entscheidend sind.
  • Parametrische Tests, die dynamische und statische Eigenschaften von Halbleiterbauteilen unter variierenden Spannungs- und Strombedingungen erfassen müssen.

Das Angebot von Schulz-Electronic im Halbleiter-Testing


Schulz-Electronic bietet mit modernsten ITECH-Geräten ein breites Spektrum an Semiconductor-Testlösungen an.

Ihre Vorteile:

  • Präzise und funktionssichere Geräte für anspruchsvolle Messaufgaben
  • Flexible Konfigurationsmöglichkeiten dank modularer Bauweise
  • Kommunikationsunterstützung über SCPI, LabVIEW, Python, CAN u. v. m.
  • Hohe Reproduzierbarkeit durch präzise abgestufte Puls- und Sweep-Steuerung
  • Attraktive Preis-Leistung für Entwicklungs- und Produktionsumgebungen

Unser Produktangebot für das Halbleiter-Testing
Für Halbleitertests bietet Schulz-Electronic die folgenden ITECH-Geräte an, welche die vielfältigen Prüfaufgaben in Forschung, Entwicklung und Produktion abdecken:

  • IT2800 Serie: Hochpräzise SMUs (Source Measure Units) für I-V-Kennlinien, Dunkelstrom-, Schwellenspannungs- und GMR-Tests.
  • IT6000D Serie: Bidirektionale DC-Stromversorgungen mit hoher Leistung (bis 18 kW), geeignet für Power-Cycling, Burn-In und IGBT-Modultests.
  • IT-M3900D Serie: Kompakte, modulare Netzgeräte für hohe Spannungen und Ströme, u. a. in Pulsanwendungen, ion implantation, Laserpumpen und der Galvanisierung.
  • IT-M3100 und IT2700 Serie: Flexible DC-Stromversorgungen für Alterungs-Tests von Power-ICs, DC-DC-Modulen, Laserdioden und LEDs.
  • IT6800A / IT6900A Serie: Linear geregelte Netzteile mit niedriger Welligkeit für empfindliche optoelektronische Tests.
  • IT6400 Serie: SMU mit dualem Quadrantenbetrieb, z. B. für LIV/PIV-Tests an Laserdioden oder optischen Detektoren.
  • IT8700 Serie: Elektronische Lasten mit hoher Dynamik, geeignet für Dauerlauf-, Belastungs- und Schaltverhaltenstests.
  • IT-M3400 Serie: Für präzise galvanische Pulstests bei der Chip-Pin-Beschichtung oder in der Galvanisierung.

Ergänzend dazu: